上海艾時(shí)微技術(shù)開發(fā)有限公司
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詳細(xì)摘要： FT-NMT04是一個(gè)多功能的原位SEM/FIB納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，能夠準(zhǔn)確地量化材料在微米和納米尺度上的力學(xué)行為。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-10-26 在線留言
詳細(xì)摘要： D-600可以對(duì)幾納米到1200µm的2D和3D臺(tái)階高度、粗糙度、應(yīng)力進(jìn)行測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-05-12 在線留言
詳細(xì)摘要： P-17支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，單次掃描高達(dá)200mm，無需圖像拼接測(cè)量。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-05-11 在線留言
詳細(xì)摘要： P-7可以對(duì)nm-µm級(jí)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-05-10 在線留言
詳細(xì)摘要： Zeta-300是采用ZDot™技術(shù)和Multi-Mode光學(xué)系統(tǒng)的落地式非接觸式表面輪廓測(cè)試系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-02-18 在線留言
詳細(xì)摘要： Zeta-20是采用ZDot™技術(shù)和Multi-Mode光學(xué)系統(tǒng)的非接觸式表面輪廓測(cè)試系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2023-02-17 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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